DM8000 M 半导体显微镜
制造厂商： 德国 Leica
除传统的光学检测外，还包括宏观检查模式 或者倾斜紫外光
徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计，如理想的 宏观检查模式 或者倾斜紫外光 (OUV, 随检UV 选择) 不但提高了分辨能力，同时也增加了观察 8" /200 毫米直径大样品 时的产量。
该机照明 基于最新的 LED 科技 ，一体化整合在显微镜机身上。 低热辐射效应和一体化内置技术确保了显微镜四周空间具有 理想化的空气环流。 LED的超长使用寿命和低能耗特性大大降低了用户 今后的使用成本.。
只要一指按键 您就可以切换放大倍率, 照明模式或相衬模式。
视野扩大四倍以上
宏观放大功能 使您可以比传统扫描物镜多看四倍以上的视野。
极限分辨率
全新的倾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基础上结合了倾斜光设计理念，确保您可以从任何角度都得到可见物理光学的极限分辨率。
人机工程学设计
非常适合 长时间在显微镜上工作, 直观操作适应任何程度的使用者。
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